隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展，LRC電橋這種測量方法已經(jīng)被淘汰了，但它的名字還被沿用至今。人們也稱它為LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、數(shù)字電橋、LCR Meter等等。

LCR測試儀主要是用來測試電感和電容的，它的測量步驟包括：設(shè)置測試頻率和測試電壓或電流水平，選擇測試參數(shù)，比如Z、Q、LS、LP、CS、CP、D等，進(jìn)行儀器校準(zhǔn)，選擇測試夾具，進(jìn)行夾具補(bǔ)償，然后將待測件放在夾具上開始測試。

使用LCR測試儀時，正確地測量電子零部件的參數(shù)是很重要的。電阻、電容、電感是電子線路中必不可少的零部件。在進(jìn)行電子線路的設(shè)計后，準(zhǔn)確地測量這些零部件的值是非常重要的。測量這些零部件的值一般使用LCR測試儀。

用LCR測試儀來測量零部件時，與試樣之間的“連接”容易成為引起測量誤差的原因。在使用LCR測試儀進(jìn)行測量時，連接方法是關(guān)鍵之一。連接方法越復(fù)雜，通常能越準(zhǔn)確地測量。端子法是一種常見的連接方法，雖然連接容易，但是由于接觸電阻和連接電纜的串聯(lián)阻抗等問題，對于低阻抗零部件的測量誤差較大。端子對法是一種減少測量阻抗誤差的方法。

如何校正誤差也是一個重要的問題。為了減少測量誤差，LCR測試儀具有若干校正功能，包括零點(diǎn)校正和負(fù)荷校正。進(jìn)行全范圍的校正需要花費(fèi)很多時間，因此可以根據(jù)實(shí)際情況選擇適當(dāng)?shù)男Ｕ秶?。零點(diǎn)校正：當(dāng)LCR測試儀的零點(diǎn)漂移對測量結(jié)果有很大影響時，就需要進(jìn)行零點(diǎn)校正。因?yàn)榱泓c(diǎn)漂移會隨著電纜和電極的配置不同而變化，所以在進(jìn)行開路和閉路零點(diǎn)校正時，需要保證電纜布線和電極間隔與連接零部件時相同。

負(fù)荷校正：如果除了夾具等不同引起的零點(diǎn)漂移外，還有其他不能忽略的測量誤差，可以進(jìn)行負(fù)荷校正。即使LCR測試儀沒有負(fù)荷校正功能，也可以通過求取校正系數(shù)來自己對各個阻抗量程和頻率進(jìn)行校正。